Atomic Force Microscope – High resolution

(กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง)

Brand / ยี่ห้อ : Seiko Instruments

Model / รุ่น : SPI3800N / SPA400

ที่ตั้งเครื่อง : ห้อง Cleanroom อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิริธร

หลักการทำงาน : AFM ทำงานโดยการใช้หัวอ่านซึ่งเป็นเข็มขนาดเล็กประมาณ 10 nm เป็นตัววัดแรงดึงดูดหรือแรงผลักที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวที่ต้องการวิเคราะห์เพื่อสร้างเป็นภาพ โดยเมื่อกดหัวอ่านลงบนผื้นผิวที่จะตรวจวัด จะเกิดแรงที่กระทำต่อก้าน (Cantilever) ของหัวอ่าน จะทำให้หัวอ่านเอียงด้วยมุมต่าง ๆ กันตามสภาพความสูงต่ำของพื้นผิวซึ่งจะสามารถตรวจวัดได้จากมุมสะท้อนของลำแสงเลเซอร์ที่ยิงลงไปยังก้านของหัวอ่าน จากนั้นคอมพิวเตอร์ก็จะแปลงสัญญาณออกมาเป็นภาพของพื้นผิวที่ต้องการตรวจสอบได้

พื้นที่มากที่สุดที่สแกนได้ : 15 μm x 15 μm

ประเภทของตัวอย่าง : ของแข็ง เช่น ฟิล์ม พอลิเมอร์ (ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางประมาณ 2.54 cm)

Atomic Force Microscope (High Resolution)
Atomic Force Microscope (High Resolution)
previous arrow
next arrow
 
Atomic Force Microscope (High Resolution)
Atomic Force Microscope (High Resolution)
previous arrow
next arrow

อัตราค่าบริการ​ทดสอบตัวอย่าง

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
300
600
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
1,000
2,000
หน่วยงานเอกชน
2,000
4,000

ผู้ดูแลเครื่อง

sc1-2

นางสาววิษา หอมจันทร์

sc2

นายอดิศร รักมิตร

ติดต่อนักวิทยาศาสตร์เพื่อสอบถามการวัดตัวอย่าง
Email : nanoinstru@kmitl.ac.th

โดยแจ้ง ชื่อ-สกุล จากบริษัท/มหาวิทยาลัย และชื่อเครื่องมือที่สนใจพร้อมเงื่อนไขการวัด
ทั้งนี้ขอให้ชี้แจงลักษณะของตัวอย่าง หรือแนบรูป แจ้งขนาด ความกว้าง ความยาว ลักษณะการวัดที่จำเพาะ

(นักวิทยาศาสตร์จะเป็นผู้จองเครื่องมือให้กับผู้ใช้บริการ)

เครื่องมืออื่นๆ

02 329 8000 ต่อ 3108, 3121

nanoinstru@kmitl.ac.th

ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS)

วิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง
1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520