Atomic Force Microscope

(กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม)

Brand / ยี่ห้อ : AFMWorkshop

Model / รุ่น : TT – AFM

ที่ตั้งเครื่อง : ชั้น 3 อาคารเฉลิมพระเกียรติ 55 พรรษา สมเด็จพระเทพฯ

หลักการทำงาน : AFM ทำงานโดยการใช้หัวอ่านซึ่งเป็นเข็มขนาดเล็กประมาณ 10 nm เป็นตัววัดแรงดึงดูดหรือแรงผลักที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวที่ต้องการวิเคราะห์เพื่อสร้างเป็นภาพ โดยเมื่อกดหัวอ่านลงบนผื้นผิวที่จะตรวจวัด จะเกิดแรงที่กระทำต่อก้าน (Cantilever) ของหัวอ่าน จะทำให้หัวอ่านเอียงด้วยมุมต่าง ๆ กันตามสภาพความสูงต่ำของพื้นผิวซึ่งจะสามารถตรวจวัดได้จากมุมสะท้อนของลำแสงเลเซอร์ที่ยิงลงไปยังก้านของหัวอ่าน จากนั้นคอมพิวเตอร์ก็จะแปลงสัญญาณออกมาเป็นภาพของพื้นผิวที่ต้องการตรวจสอบได้

พื้นที่มากที่สุดที่สแกนได้ : 20 μm x 20 μm

ประเภทของตัวอย่าง : ของแข็ง เช่น  ฟิล์ม แผ่นโลหะ CD DVD
   – ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 2 cm 

การเตรียมตัวอย่าง : ลักษณะพื้นผิวต้องค่อนข้างเรียบ

ผลการทดสอบที่จะได้รับ :
1. Raw File (.wsf)
2. รูปภาพ 2 มิติ (.png)
3. รูปภาพ 3 มิติ (.png)
4. ค่า Statistical Quantities  เช่น  Roughness (.txt)
5. อื่น ๆ 

 เงื่อนไขที่ต้องแจ้งก่อนการทดสอบ :
1. ชื่อตัวอย่าง

2. ประเภทหรือสารตัวอย่าง
3. ลักษณะตัวอย่าง
   (พื้นผิวต้องค่อนข้างเรียบ  ตัวอย่างประเภทเส้นใยไม่สามารถทดสอบได้)
4. ตำแหน่งและจำนวนจุดที่ต้องการสแกน
    เวลาที่ใช้ในการสแกนประมาณ 15 – 30 นาที/จุด  (ขึ้นอยู่กับ Area)
5. Area ที่ต้องการ Scan (ต้องไม่เกิน 20 um x 20 um)
6. ผลข้อมูลที่ต้องการทราบ
    เช่น รูปภาพ 2 มิติ  3 มิติ  เส้นกราฟแสดงลักษณะของพื้นผิวบางบริเวณ ฯ

หมายเหตุ พื้นผิว (ด้านหลัง) ตัวอย่าง จะต้องทำการแปะเทปกาวอาจจะมีรอยเปื้อนหรือเกิดความเสียหายหลังทำการทดสอบเสร็จ

Atomic Force Microscope
Atomic Force Microscope
previous arrow
next arrow
 
Atomic Force Microscope
Atomic Force Microscope
previous arrow
next arrow

อัตราค่าบริการ​ทดสอบตัวอย่าง

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
225
450
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
750
1,500
หน่วยงานเอกชน
1,500
3,000

ผู้ดูแลเครื่อง

sc1-2

นางสาววิษา หอมจันทร์

sc2

นายอดิศร รักมิตร

ติดต่อนักวิทยาศาสตร์เพื่อสอบถามการวัดตัวอย่าง
Email : nanoinstru@kmitl.ac.th

โดยแจ้ง ชื่อ-สกุล จากบริษัท/มหาวิทยาลัย และชื่อเครื่องมือที่สนใจพร้อมเงื่อนไขการวัด
ทั้งนี้ขอให้ชี้แจงลักษณะของตัวอย่าง หรือแนบรูป แจ้งขนาด ความกว้าง ความยาว ลักษณะการวัดที่จำเพาะ

(นักวิทยาศาสตร์จะเป็นผู้จองเครื่องมือให้กับผู้ใช้บริการ)

เครื่องมืออื่นๆ

02 329 8000 ต่อ 2199

nanoinstru@kmitl.ac.th

ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS)

วิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง
1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520