UV – VIS – NIR Spectrophotometer

(เครื่องวัดการดูดกลืนแสง)

Brand / ยี่ห้อ : HITACHI

Model / รุ่น : UH1450

ที่ตั้งเครื่อง : ชั้น 3 อาคารเฉลิมพระเกียรติ 55 พรรษา สมเด็จพระเทพฯ

หลักการทำงาน : 

    การวัดปริมาณของแสงที่ถูกดูดกลืนทำได้ โดยการให้ลำแสงตกลงบริเวณสารตัวอย่าง แล้ววัดปริมาณของแสงที่ทะลุผ่านหรือสะท้อน เปรียบเทียบกับแสงที่ให้ เนื่องจากสารแต่ละชนิดจะดูดกลืนแสงได้ในช่วงความยาวคลื่นต่างกัน 

ชุดตรวจวัดตัวอย่าง ชนิดของแข็ง
Detector : 60 mm High-Sensitivity Integrating Sphere ชนิด Spectralon
wavelength Range 190 – 2,600 nm

– Transmittance (190 – 2,600 nm) 
– Absorbance (190 – 2,600 nm)
– Total Reflectance (240 – 2,600 nm Incident angle 10º)
– Diffuse Reflectance (240 – 2,600 nm Incident angle 0º)
– Specular Reflectance (240 – 2,600 nm)

ตัวอย่างที่สามารถทดสอบได้   
Transmittance หรือ Absorbance
– wavelength Range 190 – 2,600 nm

– ตัวอย่างควรให้แสงทะลุผ่านได้ ขนาดมากกว่า 5 x 5 mm หนาไม่เกิน 10 mm 
Reflectance
– wavelength Range 240 – 2,600 nm
– ของแข็ง/ฟิล์ม ตัวอย่างต้องมีผิวเรียบ ขนาดมากกว่า 20 x 20 mm หนาไม่เกิน 5 mm
– ผง ควรกดอัดเป็นก้อนได้ มากกว่า 2 g สามารถล้างได้ด้วยน้ำ/เอทานอล 

ชุดตรวจวัดตัวอย่าง ชนิดของเหลว
Detector : Direct Light Detector
wavelength Range 185 – 3,300 nm

– Transmittance
– Absorbance

ตัวอย่างที่สามารถทดสอบได้   
Transmittance หรือ Absorbance เท่านั้น
– wavelength Range 185 – 3,300 nm

– ตัวอย่างสารเนื้อเดียว แสงทะลุผ่านได้ มีปริมาตรมากกว่า 3.5 ml

*ข้อมูลผลการทดสอบ เป็นไฟล์ Text เปิดใน Excel ได้ และไฟล์ PDF

NIR Diffuse Reflectance Measurement
NIR Diffuse Reflectance Measurement Graph
NIR Specular Reflectance Measurement Graph
Specular Reflectance Measurement
NIR Transmittance Measurement of Micro Samples
NIR Transmittance Measurement of Micro Samples
UV – VIS – NIR Spectrophotometer
Diffuse Reflectance Measurement Graph
Diffuse Reflectance Measurement
Specular Reflectance Measurement Graph
Specular Reflectance Measurement
Transmittance Measurement of Micro Samples
Transmittance Measurement of Micro Samples Graph
previous arrow
next arrow
 
UV – VIS – NIR Spectrophotometer
Diffuse Reflectance Measurement Graph
Diffuse Reflectance Measurement
Specular Reflectance Measurement Graph
Specular Reflectance Measurement
Transmittance Measurement of Micro Samples
Transmittance Measurement of Micro Samples Graph
previous arrow
next arrow

อัตราค่าบริการทดสอบตัวอย่าง

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
210
420
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
700
1,400
หน่วยงานเอกชน
1,400
2,800

ผู้ดูแลเครื่อง

sc3-2

ว่าที่ร้อยตรี ภูสุฎา เพ็ชรแบน

sc2

นายอดิศร รักมิตร

ติดต่อนักวิทยาศาสตร์เพื่อสอบถามการวัดตัวอย่าง
Email : nanoinstru@kmitl.ac.th

สอบถามข้อมูลก่อนส่งตัวอย่างทดสอบทางอีเมลเท่านั้น
โดยแจ้ง ชื่อ-สกุล จากบริษัท/มหาวิทยาลัย และชื่อเครื่องมือที่สนใจพร้อมเงื่อนไขการวัด
ทั้งนี้ขอให้ชี้แจงลักษณะของตัวอย่าง หรือแนบรูป แจ้งขนาด ความกว้าง ความยาว ลักษณะการวัดที่จำเพาะ

Ex. ข้อมูลที่นักวิทย์ต้องการเพื่อพิจารณาตัวอย่างว่าทดสอบได้หรือไม่?
เป็นฟิล์มเคลือบบนกระจก จำนวน 10 ตัวอย่าง ขนาด 2 x 5 cm หนา 3 mm
Measurement Type: Wavelength Scan
Data Mode: %T
Start Wavelength: 2600 nm
End Wavelength: 190 nm

(นักวิทยาศาสตร์จะเป็นผู้จองเครื่องมือให้กับผู้ใช้บริการ)

เครื่องมืออื่นๆ

02 329 8000 ต่อ 3121

nanoinstru@kmitl.ac.th

ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS)

วิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง
1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520