X-ray Diffractometer

(เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์)

Brand / ยี่ห้อ : Rigaku

Model / รุ่น : SmartLab

ที่ตั้งเครื่อง : ชั้น 1 อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิรินธร สจล.

หลักการทำงาน : อาศัยหลักการการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ เมื่อรังสีเอ็กซ์ถูกฉายลงบนสารตัวอย่างแล้วจะเกิดการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ โดยจะทำการวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ที่มุมต่าง ๆ ซึ่งขึ้นอยู่กับความเป็นระเบียบของสารตัวอย่าง ข้อมูลที่ตรวจวัดได้จะบ่งบอกถึงโครงสร้างผลึก ชนิดของผลึก และความเป็นผลึกของสารตัวอย่าง รวมถึงชนิดของสารประกอบสารตัวอย่าง

แหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซเรย์ :  1.2 kVA, Cu K-α1

Wavelength : 1.544 A°

Tube voltage : 40 kV

Tube current : 30 mA

โหมดการทดสอบ :
1. Out of plane
2. In-plane
3. Grazing incidence
4. In-situ temperature

การเตรียมตัวอย่าง :
1. ผงละเอียด โดยผ่านการบดมาแล้ว ซึ่งจะเตรียมใน Sample holder ที่มีขนาด 20 mm x 20 mm x 0.5 mm
2. ของแข็ง ผิวหน้าเรียบและหนาทั่วกันทั้งหน้า มีความหนาไม่เกิน 18 mm.
3. ฟิล์มบาง มีความหนาไม่เกิน 18 mm.

การเตรียมตัวอย่างสำหรับโหมด In-Situ Temperature :
1. ของแข็ง เช่น Pellet, Thin film หรืออื่นๆ ที่ผิวหน้าเรียบและหนาทั่วกันทั้งหน้า มีความหนาไม่เกิน 2 mm. และเส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 29 mm.

ผลการทดสอบที่จะได้รับ :
1. กราฟผลการทดสอบ (ไฟล์ Word)
2. ไฟล์ข้อมูล Excel

 เงื่อนไขที่ต้องแจ้งก่อนการทดสอบ :
1. ชื่อตัวอย่าง

2. ชื่อสารประกอบ
3. ลักษณะตัวอย่าง
4. 2-theta range (degrees)

5. ตรวจสอบทั้งชิ้นงานหรือที่ผิวชิ้นงาน
6. ผลการทดสอบที่ต้องการพิจารณา
7. รูปตัวอย่าง

X-ray Diffractometer
In-situ-XRD
XRD-Sample holder
previous arrow
next arrow
 
X-ray Diffractometer
In-situ-XRD
XRD-Sample holder
previous arrow
next arrow

อัตราค่าบริการ​สำหรับตัวอย่างแบบ Powder และ Thin film

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
270
540
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
900
1,800
หน่วยงานเอกชน
1,800
3,600

อัตราค่าบริการเครื่องให้ความร้อนขณะวิเคราะห์ตัวอย่าง In-Situ Temperature (Air pressure)

(คิดค่าบริการร่วมกับโหมด Thin Film)

     สำหรับอุณหภูมิต่ำกว่า 400 ํC

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
300
600
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
1,000
2,000
หน่วยงานเอกชน
2,000
4,000

     สำหรับอุณหภูมิ 400 - 800 ํC

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
450
900
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
1,500
3,000
หน่วยงานเอกชน
3,000
6,000

     สำหรับอุณหภูมิสูงกว่า 800 ํC

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
600
1,200
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
2,000
4,000
หน่วยงานเอกชน
4,000
8,000

ผู้ดูแลเครื่อง

sc2

นายอดิศร รักมิตร

sc1-2

นางสาววิษา หอมจันทร์

ติดต่อนักวิทยาศาสตร์เพื่อสอบถามการวัดตัวอย่าง
Email : nanoinstru@kmitl.ac.th

โดยแจ้ง ชื่อ-สกุล จากบริษัท/มหาวิทยาลัย และชื่อเครื่องมือที่สนใจพร้อมเงื่อนไขการวัด
ทั้งนี้ขอให้ชี้แจงลักษณะของตัวอย่าง หรือแนบรูป แจ้งขนาด ความกว้าง ความยาว ลักษณะการวัดที่จำเพาะ

(นักวิทยาศาสตร์จะเป็นผู้จองเครื่องมือให้กับผู้ใช้บริการ)

เครื่องมืออื่นๆ

02 329 8000 ต่อ 3121

nanoinstru@kmitl.ac.th

ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS)

วิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง
1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520